| 单向双端口SRAM的测试算法 |
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| 引用本文： | 刘伟,周玉梅,叶青.单向双端口SRAM的测试算法[J].固体电子学研究与进展,2005,25(1):89-92. |
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| 作者姓名： | 刘伟 周玉梅 叶青 |
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| 作者单位： | 中国科学院微电子中心,北京,100029;中国科学院微电子中心,北京,100029;中国科学院微电子中心,北京,100029 |
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| 摘 要： | 描述了一种检测单向双端口 SRAM失效的算法 ,采用了基于字的测试方法 ,可以有效地检测字间失效、字内失效和同时读写失效 ,具有失效覆盖率高和测试时间复杂度低的优点。
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| 关 键 词： | 单向双端口静态存储器 失效模型 队列测试 |
| 文章编号： | 1000-3819(2005)01-089-04 |
| 修稿时间： | 2003年3月5日 |
Test Algorithm for Register File Memories |
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| LIU Wei,ZHOU Yumei,YE Qing.Test Algorithm for Register File Memories[J].Research & Progress of Solid State Electronics,2005,25(1):89-92. |
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| Authors: | LIU Wei ZHOU Yumei YE Qing |
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| Abstract: | This paper describes an algorithm designed for testing register file memories (o ne read p ort and one write port). It can sensitize and detect memory cell faults, couplin g faults between cells, address decoder faults and faults caused by reading and writing simultaneously. |
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| Keywords: | register file memories function fault model m arch test |
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