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μ因子法荧光X射线光谱定量分析
作者姓名:杨乐山  吴传智
作者单位:四川地质局中心实验室,四川地质局中心实验室
摘    要:本文提出了用穿透法和散射背景法测定矿物试样的质量吸收系数,对荧光X射线辐射强度进行校正,以克服基体效应。并对基理和实验方法进行了初步的推导和阐述。样品可不经任何处理,直接进行测定,从而提高了分析速度和灵敏度。

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