| CCD长时间积分边角亮光的实验研究 |
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| 引用本文： | 邱虹云,刘阳,孙利群,田芊.CCD长时间积分边角亮光的实验研究[J].光子学报,2007,36(9):1705-1709. |
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| 作者姓名： | 邱虹云 刘阳 孙利群 田芊 |
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| 作者单位： | 清华大学,精密测试技术及仪器国家重点实验室,北京,100084 |
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| 摘 要： | 通过实验定量研究了ICX412 CCD芯片在不同积分时间下的边角亮光的强度特征,并通过对CCD表面的拍摄,发现边角亮光的出现是由于CCD感光区域周边的两个辐射光源产生的近红外辐射.分析了黑场矫正方法对图像均方差(STD)影响,并研究了在积分过程中通过降低发光区域电路供电电压,再采用黑场矫正等手段消除了边角亮光对CCD长时间积分背景强度及STD的影响.
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| 关 键 词： | CCD 长时间积分 边角亮光 图像校正 |
| 文章编号： | 1004-4213（2007）09-1705-5 |
| 收稿时间： | 2005-12-22 |
| 修稿时间： | 2006-04-21 |
EExperimental Study of CCD Corner Glow as Long Time Integration |
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| QIU Hong-yun,LIU Yang,SUN Li-qun,TIAN Qian.EExperimental Study of CCD Corner Glow as Long Time Integration[J].Acta Photonica Sinica,2007,36(9):1705-1709. |
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| Authors: | QIU Hong-yun LIU Yang SUN Li-qun TIAN Qian |
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| Institution: | State Key Laboratory of Precision Measurement Technology and Instrument, Tsinghua University ,Beijing 100084 ,China |
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| Abstract: | Intensity distribution property of corner glow with different integration times on an ICX412 CCD chip is measured experimentally.Two sources of NIR radiation surrounding the sensor array are captured using another CCD camera.The usage of dark frame calibration for the corner glow removal is researched.The combined method of reducing the supply voltage to the area of light source and dark frame calibration gets the good results of removing the effects of corner glow. |
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| Keywords: | CCD Long time integration Corner glow Image calibration |
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