| 能量色散-X荧光能谱法同时测定工业硅中铝钙铁硅 |
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| 引用本文： | 郭庆斌. 能量色散-X荧光能谱法同时测定工业硅中铝钙铁硅[J]. 理化检验(化学分册), 2003, 39(11): 665-666 |
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| 作者姓名： | 郭庆斌 |
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| 作者单位： | 青海出入境检验检疫局技术中心,西宁,810000 |
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| 摘 要： | 研究了能量色散 X荧光法测定工业硅的方法 ,提出以硼酸作外壳 ,粉末直接压片测定 ,应用于实际测定 ,速度快、准确度高 ,与国家标准方法比较 ,无显著性差异
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| 关 键 词： | 能量色散X荧光能谱法 工业硅 Al Ca Fe Si |
| 文章编号： | 1001-4020(2003)11-0665-02 |
| 修稿时间： | 2002-03-21 |
ENERGY-DISPERSION-XFPS DETERMINATION OF Al Ca Fe AND Si IN INDUSTRIAL GRADE SILICON |
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| GUO Qing bin. ENERGY-DISPERSION-XFPS DETERMINATION OF Al Ca Fe AND Si IN INDUSTRIAL GRADE SILICON[J]. Physical Testing and Chemical Analysis Part B:Chemical Analgsis, 2003, 39(11): 665-666 |
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| Authors: | GUO Qing bin |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Energy-dispersion XFPS Industrial grade silicon Aluminum Calcium Iron Silicon |
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