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超低副瓣天线平面近场测量取样方式的新准则
引用本文:张福顺,焦永昌,刘其中,毛乃宏. 超低副瓣天线平面近场测量取样方式的新准则[J]. 电波科学学报, 2001, 16(4): 437-440
作者姓名:张福顺  焦永昌  刘其中  毛乃宏
作者单位:西安电子科技大学天线与电磁散射研究所,陕西,西安,710071
基金项目:西安电子科技大学天线与微波技术重点实验室基金资助项目 (99JS0 7.4 .1.ZS0 70 1)
摘    要:采用实验的方法给出了用平面近场技术测量超低副瓣天线时收发天线之间的近区测试距离以及取样密度的选取准则 ,提出了超低副瓣天线测量对测试系统温度漂移的要求 ,并给出了满足系统温度漂移要求的测试方式。依据新的选取准则 ,实测了最佳角锥喇叭和波纹喇叭天线的 E面方向图。测试结果说明 ,该选取准则具有良好的重复性 ,且重复精度为 60 d B± 2 d B

关 键 词:超低副瓣天线 平面近场测量 取样间距 采样密度 取样方式
文章编号:1005-0388(2001)04-0437-04

New sampling criterion for the measurement of ultralow side-lobe antennas in planar near-field technique
ZHANG Fu shun JIAO Yong chang LIU Qi zhong MAO Nai hong. New sampling criterion for the measurement of ultralow side-lobe antennas in planar near-field technique[J]. Chinese Journal of Radio Science, 2001, 16(4): 437-440
Authors:ZHANG Fu shun JIAO Yong chang LIU Qi zhong MAO Nai hong
Abstract:
Keywords:ultra low side lobe antennas planar near field measurement near field distance sampling interval
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