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单片尺寸稳定性控制
引用本文:曾芳仔,谭志敏.单片尺寸稳定性控制[J].印制电路信息,2002(2):47-50.
作者姓名:曾芳仔  谭志敏
作者单位:江南计算技术研究所
摘    要:本文讨论了层压工艺参数对单片尺寸稳定性的影响,结合筛选配套,有效地提高了高层数PCB生产的合格率.

关 键 词:单片、尺寸稳定性、筛选配套

Vacuum Laminator of PCB
Abstract:
Keywords:
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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