Mathematical approach for the dynamic testing technique |
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Authors: | N Nakamura H Katoh Y Teramoto |
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Institution: | (1) Scientific Instruments Division, Seiko Instruments Inc., 36-1 Takenoshita Oyama-cho, Sunto-gun, 410-13 Shizuoka, Japan |
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Abstract: | In dealing with phenomena which show a linear response such as viscoelastic or dielectric properties, measurements are carried
out by observing the relationship between the stimulus applied to the sample and the response from the sample. Since the Fourier
analysis technique is effective in obtaining this relationship, two types of circuitries based on Fourier analysis have been
created. Both DMA and dielectric measurement were used to evaluate these circuitries. Results were satisfactory, especially
with respect to tanδ precision.
Zusammenfassung Bei der Arbeit mit Erscheinungen, die wie z.B. viskoelastische oder dielektrische Eigenschaften eine lineare Reaktion zeigen,
wurden Messungen durch Beobachtung der Beziehung zwischen der auf die Probe angewendeten Aktion und der von der Probe gezeigten
Reaktion durchgeführt. Da die Fourier-Analyse eine effektive Technik zur Ermittlung dieser Beziehung ist, wurden auf der Grundlage
der Fourier-Analyse zwei Typen von Schemen geschaffen. Sowohl DMA als auch dielektrische Messungen wurden zur Entwicklung
dieser Schemen verwendet. Did Resultate waren zufriedenstellend, insbesondere mit Hinblick auf die Genauigkeit von tanδ.
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Keywords: | DMA dynamic testing technique Fourier analysis technique |
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