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Mathematical approach for the dynamic testing technique
Authors:N Nakamura  H Katoh  Y Teramoto
Institution:(1) Scientific Instruments Division, Seiko Instruments Inc., 36-1 Takenoshita Oyama-cho, Sunto-gun, 410-13 Shizuoka, Japan
Abstract:In dealing with phenomena which show a linear response such as viscoelastic or dielectric properties, measurements are carried out by observing the relationship between the stimulus applied to the sample and the response from the sample. Since the Fourier analysis technique is effective in obtaining this relationship, two types of circuitries based on Fourier analysis have been created. Both DMA and dielectric measurement were used to evaluate these circuitries. Results were satisfactory, especially with respect to tanδ precision.
Zusammenfassung Bei der Arbeit mit Erscheinungen, die wie z.B. viskoelastische oder dielektrische Eigenschaften eine lineare Reaktion zeigen, wurden Messungen durch Beobachtung der Beziehung zwischen der auf die Probe angewendeten Aktion und der von der Probe gezeigten Reaktion durchgeführt. Da die Fourier-Analyse eine effektive Technik zur Ermittlung dieser Beziehung ist, wurden auf der Grundlage der Fourier-Analyse zwei Typen von Schemen geschaffen. Sowohl DMA als auch dielektrische Messungen wurden zur Entwicklung dieser Schemen verwendet. Did Resultate waren zufriedenstellend, insbesondere mit Hinblick auf die Genauigkeit von tanδ.
Keywords:DMA  dynamic testing technique  Fourier analysis technique
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