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SIS的正电子湮没寿命谱的研究
引用本文:秦安慰,陈晓禾,潘玉莲,邱励欧.SIS的正电子湮没寿命谱的研究[J].应用化学,1987,0(4):31-34.
作者姓名:秦安慰  陈晓禾  潘玉莲  邱励欧
作者单位:1. 复旦大学材料科学系;2. 复旦大学物理系
摘    要:用正电子湮没技术,在-80°~100℃温度范围内,测量了苯乙烯-异戊二烯-苯乙烯三嵌段聚合物(SIS)的正电子寿命谱。在长寿命成分的温度谱中,实验发现除了有和聚异戊二乙烯及聚苯乙烯的玻璃化温度相对应的温度转变区外,在37℃还存在一个温度转变区。这个中间转变温度可以解释为SIS嵌段共聚物的中间相的玻璃化转变温度。

收稿时间:1986-04-12
修稿时间:1986-10-17

POSITRON ANNIHILATION IN SIS
Qin Anwei,Chen Xiaohe,Pan Yulian,Qiu Ll'ou.POSITRON ANNIHILATION IN SIS[J].Chinese Journal of Applied Chemistry,1987,0(4):31-34.
Authors:Qin Anwei  Chen Xiaohe  Pan Yulian  Qiu Ll'ou
Institution:Fudan University, Shanghai
Abstract:The positron annihilation technique was used to study the properties of styrene-isoprene-styrene block copolymer in the temperature of - 80 to 100℃. In the temperature spectrum of the longest lifetime τ3, in addition to two transition temperatures which correspond to the glass transition temperatures of polyisoprene and polystyrene, an irregularity was observed.This transition temperature is interpreted as the glass transtion temperature of the interphase in block copolymers.
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