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| 国外光学测试技术(续) | |
| 引用本文： | 刘中本.国外光学测试技术(续)[J].应用光学,1985(5). |
| 作者姓名： | 刘中本 |
| 作者单位： | 兵器工业部205所 |
| 摘 要： | 四、干涉测试技术虽然上述的三种测试技术也是基于光的干涉,但这里是指通常的干涉技术。干涉技术广泛地应用于光学工业中。牛顿环、 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
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