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涂层的辉光放电光谱分析及精密度
作者姓名:蔡华义  刘建琳
作者单位:北京航空材料研究所,北京航空材料研究所
摘    要:本文研究了辉光放电光源的基本特性并应用到涂层表层的组成分析,分析结果和电子探针的结果相一致,证明本方法可靠。辉光放电光源分析的精确度比火花光源有显著的提高,如配用光量计,可进行高含量元素的分析。

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