石英中Al~（3＋）－空穴取向变化弛豫过程中的红外发散响应

基于ａ石英的晶体结构，将红外发散响应模型和双势阱模型应用到含Ａｌ杂质的ａ石英中Ａｌ￣（３＋）－空穴的取向变化弛豫过程，研究其低温介电损耗特性，结果表明Ｔ＜６．５Ｋ时，介电损耗的主要贡献来自于单声子助隧道弛豫过程；Ｔ＞１０Ｋ时，主要贡献来自于热跃迁弛豫过程；而在中间温区，介电损耗是两种过程的迭加，同一弛豫体不同的弛豫过程对应于不同的红外发散响应，还讨论了同一弛豫体引起的超声弛豫损耗。