首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

非致冷热成像技术:列阵、系统与应用
作者姓名:Paul W.Kruse  顾聚兴
作者单位: 
摘    要:第一章:关于非致冷热成像探测机制及其质量因数的综述 1.术语 2.探测机制 2.1操作与性能 2.2热探测机制 2.2.1电阻型测辐射热计 2.2.2热释电效应 2.2.3场增强热释电效应/铁电测辐射热计

本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
点击此处可从《红外》浏览原始摘要信息
点击此处可从《红外》下载全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号