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一种改进的基于110GHz在片S参数测试的HEMT器件寄生电阻提取方法
引用本文:李织纯,吕渊婷,张傲,高建军.一种改进的基于110GHz在片S参数测试的HEMT器件寄生电阻提取方法[J].红外与毫米波学报,2024,43(1):85-90.
作者姓名:李织纯  吕渊婷  张傲  高建军
作者单位:华东师范大学 物理与电子科学学院,上海 200241,华东师范大学 物理与电子科学学院,上海 200241,南通大学 交通与土木工程学院,江苏 南通 226019,华东师范大学 物理与电子科学学院,上海 200241
基金项目:Supported by the National Natural Science Foundation of China (62201293,62034003)
摘    要:提出了一种改进的高电子迁移率晶体管寄生电阻提取方法,该方法利用了特殊偏置点 (Vgs > Vth, Vds = 0 V)的等效电路模型, 推导了寄生电阻的表达式,采用半分析法对寄生电阻进行了优化。1 ~110 GHz S参数实测结果和仿真的S参数一致,证明该方法是有效的。

关 键 词:铟化磷高电子迁移率晶体管  等效电路模型  寄生电阻  器件建模
收稿时间:2023/5/23 0:00:00
修稿时间:2023/11/6 0:00:00

An improved method for determination of extrinsic resistances for HEMT devices based on 110 GHz S-parameters on-wafer measurement
LI Zhi-Chun,LYU Yuan-Ting,ZHANG Ao and GAO Jian-Jun.An improved method for determination of extrinsic resistances for HEMT devices based on 110 GHz S-parameters on-wafer measurement[J].Journal of Infrared and Millimeter Waves,2024,43(1):85-90.
Authors:LI Zhi-Chun  LYU Yuan-Ting  ZHANG Ao and GAO Jian-Jun
Abstract:
Keywords:
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