| X荧光光谱法测定钼原矿、尾矿和精矿中的钼及杂质元素 |
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| 引用本文： | 杨登峰.X荧光光谱法测定钼原矿、尾矿和精矿中的钼及杂质元素[J].分析测试学报,2006,25(Z1):84-86. |
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| 作者姓名： | 杨登峰 |
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| 作者单位： | 金堆城钼业集团有限公司,陕西,华县,714102 |
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| 摘 要： | X荧光分析法是上个世纪30年代发展起来的一种分析方法,它无需对样品进行化学处理,不消耗化学试剂,具有快速、准确、高效、节能、环保的优点.近年来,随着科学技术的不断发展,X荧光分析法在仪器性能、分析处理技术上都取得了巨大的进步,其分析的精度、准确度都有了很大的改善,在国民生产、生活的许多领域都在逐渐取代着传统的化学分析法.
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The Determination of Molybdenum and Impurity Element in Ores,Residues,and Concentrates of Molybdenum by X-ray-fluorescence Spectrometry |
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| YANG Deng-feng.The Determination of Molybdenum and Impurity Element in Ores,Residues,and Concentrates of Molybdenum by X-ray-fluorescence Spectrometry[J].Journal of Instrumental Analysis,2006,25(Z1):84-86. |
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| Authors: | YANG Deng-feng |
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