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SU-8胶深紫外光刻模拟
引用本文:冯明,黄庆安,李伟华,周再发,朱真.SU-8胶深紫外光刻模拟[J].半导体学报,2007,28(9).
作者姓名:冯明  黄庆安  李伟华  周再发  朱真
作者单位:东南大学MEMS教育部重点实验室,南京,210096
摘    要:综合了SU-8胶光刻过程中衍射、反射、折射、吸收率随光刻胶深度的变化及交联显影等各种效应,考虑了折射及吸收系数随时间的变化,建立了SU-8化学放大胶的光刻模型.模拟结果显示,该模型比现有的模拟方法结果更精确,与实验结果符合较好,可以在实际应用中对SU-8光刻胶的二维模拟结果进行有效预测.

关 键 词:SU-8胶  光刻模拟  显影轮廓

Simulation of SU-8 Photoresist Profile in Deep UV Lithography
Feng Ming,Huang Qing'an,Li Weihua,Zhou Zaifa,Zhu Zhen.Simulation of SU-8 Photoresist Profile in Deep UV Lithography[J].Chinese Journal of Semiconductors,2007,28(9).
Authors:Feng Ming  Huang Qing'an  Li Weihua  Zhou Zaifa  Zhu Zhen
Abstract:
Keywords:
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