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台面结构对4H-SiC紫外探测器性能的影响
引用本文:刘兴昉,孙国胜,李晋闽,赵永梅,宁瑾,王雷,赵万顺,罗木昌,李家业,曾一平.台面结构对4H-SiC紫外探测器性能的影响[J].半导体学报,2007,28(Z1).
作者姓名:刘兴昉  孙国胜  李晋闽  赵永梅  宁瑾  王雷  赵万顺  罗木昌  李家业  曾一平
作者单位:1. 中国科学院半导体研究所材料中心,北京,100083;中国科学院传感技术国家重点实验室,北京,100083
2. 中国科学院半导体研究所材料中心,北京,100083
3. 中国科学院传感技术国家重点实验室,北京,100083
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划),国家自然科学基金
摘    要:制备了4种具有不同光窗口台面结构的4H-SiC紫外探测器#1,#2,#3和#4,并分别测试它们的紫外光响应谱.器件制备在4H-SiC同质外延层上,台面为垂直结构,其中探测器#1光窗口区由透明Pt层、p+层、p层、n层和n+衬底组成.在探测器#1的基础上用离子刻蚀的方法分别剥离透明Pt层、透明Pt层和p+层、透明Pt层和层以及p层制备出探测器#2,#3和#4.器件的紫外光响应谱表明,紫外响应率最好的是探测器#2,其次是探测器#4,#1,#3,其中探测器#2比其他类型的探测器响应率高1个数量级;4种类型的探测器峰值响应位置各不相同,其中探测器#1位于341nm处,探测器#2,#3和#4分别在312,305和297nm处.

关 键 词:4H-SiC  紫外探测器  台面结构  光窗口

Effect of Mesa Structures on the Responsivities of 4H-SiC Photodetectors
Liu Xingfang,Sun Guosheng,Li Jinmin,Zhao Yongmei,Ning Jin,Wang Lei,Zhao Wanshun,Luo Muchang,Li Jiaye,Zeng Yiping.Effect of Mesa Structures on the Responsivities of 4H-SiC Photodetectors[J].Chinese Journal of Semiconductors,2007,28(Z1).
Authors:Liu Xingfang  Sun Guosheng  Li Jinmin  Zhao Yongmei  Ning Jin  Wang Lei  Zhao Wanshun  Luo Muchang  Li Jiaye  Zeng Yiping
Abstract:
Keywords:
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