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| 断层扫描分析法用于联用色谱二维数据的解析Ⅱ. 定量分析:原理与应用 | |
| 引用本文： | 亓云鹏,宋云龙,吴玉田,柴逸峰,李通化,范国荣,陆峰.断层扫描分析法用于联用色谱二维数据的解析Ⅱ. 定量分析:原理与应用[J].分析化学,2005,33(2):169-172. |
| 作者姓名： | 亓云鹏 宋云龙 吴玉田 柴逸峰 李通化 范国荣 陆峰 |
| 作者单位： | 第二军医大学药学院药物分析教研室,上海,200433;同济大学化学系,上海,200092 |
| 基金项目： | 军队科技攻关项目;第二军医大学校科研和教改项目 |
| 摘 要： | 提出了一种全新的色谱一光谱二维数据信息处理手段——断层扫描分析法。本研究介绍断层扫描分析法的定量分析原理：在重叠色谱峰簇中，每个色谱保留时间处都可得到一条光谱“断层”；针对不同的光谱“断层”，可结合褶合曲线分析法进行定量分析，并最终获得重叠色谱峰簇中待测组分的定量信息。用断层扫描分析法对一实验体系进行了定量分析，结果满意。 |
| 关 键 词： | 联用色谱 褶合曲线分析法 断层扫描分析法 定量分析 |
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