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Effect of the Ge mole fraction on the formation of a conduction path in cylindrical strained-silicon-on-SiGe MOSFETs
Authors:Tarun Vir Singh  M Jagadesh Kumar
Institution:Department of Electrical Engineering, Indian Institute of Technology, Delhi, Hauz Khas, New Delhi–110 016, India
Abstract:
Keywords:Strained silicon  Surrounding gate MOSFET  Threshold voltage  Two-dimensional simulation
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