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| X射线双晶衍射技术 | |
| 引用本文： | 徐景阳, 谭淞生, 许顺生. X射线双晶衍射技术[J]. 物理, 1988, 17(1). |
| 作者姓名： | 徐景阳 谭淞生 许顺生 |
| 作者单位： | 中国科学院上海冶金研究所 |
| 摘 要： | 一、双晶衍射仪的原理当一束入射Ｘ射线射入第一晶体Ａ后，从Ａ晶体出来的衍射线，又作为第二晶体Ｂ的入射线，从Ｂ晶体出来的衍射线用计数管或底片接收进行分析．双晶衍射仪中两个晶体通常处于（ｎ，－ｎ）平行衍射位置．仪罩工作时，第二晶体的转角θ稍微转动，用来记录它的摆动曲线（积分曲线），以测量试样表面层的微量应变或点阵常数的微小变化．二、仪器的理论精度分析了Ｗ．Ｌ．Ｂｏｎｄ［１］设计的多用途双晶Ｘ射线测?... |
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