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| X射线光电子能谱法分析爆炸残留物 | |
| 引用本文： | 陈静允,谢伟宏,周环.X射线光电子能谱法分析爆炸残留物[J].理化检验(化学分册),2013(6):731-734. |
| 作者姓名： | 陈静允 谢伟宏 周环 |
| 作者单位： | 浙江工业大学化学工程与材料学院;浙江省杭州市公安司法鉴定中心;浙江工业大学分析测试中心 |
| 基金项目： | 浙江省科技厅分析测试项目(2009F70003) |
| 摘 要： | 提出了用X射线光电子能谱法(XPS)对某爆炸案件的爆炸残留物进行定性、定量分析,同时以X射线荧光光谱仪(XRF)、扫描电镜能谱仪(SEM/EDX)为辅助测试手段,判断为氯酸盐类炸药,所用炸药为烟火剂。结果表明:XPS可以无损、快速地检测出无机爆炸残留物的元素成分及含量,并确定主要爆炸成分的化学式,进而确定罪犯所用炸药的种类,为侦破案件提供线索。 |
| 关 键 词： | 爆炸残留物 X射线光电子能谱法 定性分析 定量分析 |
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