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| X射线衍射貌相术简介 | |
| 引用本文： | 许顺生. X射线衍射貌相术简介[J]. 物理, 1979, 8(4). |
| 作者姓名： | 许顺生 |
| 作者单位： | 中国科学院上海冶金研究所 |
| 摘 要： | 一、引言Ｘ射线衍射貌相术（简称Ｘ射线貌相术）是利用Ｘ射线在晶体中衍射的动力学及运动学衍衬原理，根据晶体中完整及非完整部分衍射的衬度变化及消光规律，来检查晶体材料及器件表面和内部微观结构缺陷的一种方法．随着半导体、激光等科学技术的发展和近完整晶体材料的大量使用，自五十年代末期以来，Ｘ射线貌相术的实验和理论有了很大发展，逐渐形成为一种有效的检验手段和一门分支学科［１－３］．Ｘ射线貌相术具有下列一?... |
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