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| 基于改进Faster-RCNN的偏光片表面缺陷检测 | |
| 作者单位： | 苏州科技大学电子与信息工程学院,江苏苏州215009;苏州市智能测控工程技术研究中心,江苏苏州215009 |
| 基金项目： | 江苏省产学研前瞻性联合研究项目;教学改革项目 |
| 摘 要： | |
| 关 键 词： | 表面缺陷检测 卷积神经网络 FPN Faster-RCNN k-means++ |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ | |
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