| 氢化物发生-等离子发射光谱法同时测定电子五金元件中汞铅镉铬 |
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| 引用本文： | 童玉贵,程群,林碧芬,郑志明.氢化物发生-等离子发射光谱法同时测定电子五金元件中汞铅镉铬[J].理化检验(化学分册),2006,42(10):841-842. |
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| 作者姓名： | 童玉贵 程群 林碧芬 郑志明 |
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| 作者单位： | 莆田出入境检验检疫局,莆田,351100 |
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| 摘 要： | 电子五金元件样品经酸消解后,样品溶液与氯化亚锡经自制简易氢化物装置混合产生氢化物,与样品溶液一起导入等离子体中,可同时测定汞、铅、镉、铬四元素。氢化物发生大大提高了汞的检测灵敏度,汞、铅、镉、铬检出限分别为0.002,0.006,0.002和0.005 mg.L-1,相对标准偏差为2.09%~3.12%。
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| 关 键 词： | 电感耦合等离子体发射光谱法 氢化物发生 汞 铅 镉 铬 电子五金元件 |
| 文章编号： | 1001-4020（2006）10-0841-02 |
| 收稿时间： | 2006-07-18 |
| 修稿时间： | 2006年7月18日 |
HG-ICP-AES DETERMINATION OF MERCURY LEAD CADMIUM AND CHROMIUM IN ELECTRONIC HARDWARE COMPONENTS |
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| TONG Yu-gui,CHENG Qun,LIN Bi-fen,ZHENG Zhi-ming.HG-ICP-AES DETERMINATION OF MERCURY LEAD CADMIUM AND CHROMIUM IN ELECTRONIC HARDWARE COMPONENTS[J].Physical Testing and Chemical Analysis Part B:Chemical Analgsis,2006,42(10):841-842. |
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| Authors: | TONG Yu-gui CHENG Qun LIN Bi-fen ZHENG Zhi-ming |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | ICP-AES Hydride generation Mercury Lead Cadmium Chromium Electronic hardware components |
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