X射线荧光光谱法测定地质样品中的铀和钍

由于X荧光光谱仪研制的进展,已有可能使用这种仪器对地质样品中低量铀和钍进行直接快速测定。此法是仅次于中子活化分析的较好的仪器分析法。在地质样品中使用峰背比法,以X光管辐射的散射线作内标,对基体效应可作一定的校正。本文拟定了测定含量范围为1—20000ppm的铀和钍分析法。