X射线荧光光谱法测定地质样品中的铀和钍 |
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引用本文: | 肖德明,甘璇玑,张鸿文.X射线荧光光谱法测定地质样品中的铀和钍[J].分析化学,1983(10). |
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作者姓名: | 肖德明 甘璇玑 张鸿文 |
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作者单位: | 北京铀矿地质研究所,北京铀矿地质研究所,北京铀矿地质研究所 |
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摘 要: | 由于X荧光光谱仪研制的进展,已有可能使用这种仪器对地质样品中低量铀和钍进行直接快速测定。此法是仅次于中子活化分析的较好的仪器分析法。在地质样品中使用峰背比法,以X光管辐射的散射线作内标,对基体效应可作一定的校正。本文拟定了测定含量范围为1—20000ppm的铀和钍分析法。
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