| 一种测量微波张量磁化率和有效线宽的方法 |
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| 引用本文： | 廖绍彬,尹光俊,刘进,周丽年. 一种测量微波张量磁化率和有效线宽的方法[J]. 物理学报, 1980, 29(5): 644-650 |
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| 作者姓名： | 廖绍彬 尹光俊 刘进 周丽年 |
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| 作者单位： | 北京大学物理系 |
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| 摘 要： | 本文提出一种能用同一样品测定共振区和非共振区的微波张量磁化率和有效线宽的方法。在此方法中,将外加稳恒磁场旋转,与微波磁场形成一定的夹角,以调整被测样品对谐振腔的影响。同时将Patton采用的计算有效线宽的迭代法,推广用来计算微波张量磁化率各组元Xe,Xαe和正。负圆偏振标量磁化率X±e等。本文还介绍了测量装置和测量结果。关键词：
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| 收稿时间： | 1979-05-14 |
A METHOD OF MEASURING TENSOR SUSCEPTIBILITY AND EFFECTIVE LINEWIDTH |
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| LIAO SHAO-BIN,YIN GUANG-JUN,LIU JIN and ZHOU LI-NIAN. A METHOD OF MEASURING TENSOR SUSCEPTIBILITY AND EFFECTIVE LINEWIDTH[J]. Acta Physica Sinica, 1980, 29(5): 644-650 |
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| Authors: | LIAO SHAO-BIN YIN GUANG-JUN LIU JIN ZHOU LI-NIAN |
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