富碲组份对碲镉汞器件性能的影响 |
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引用本文: | 关振东,燕秀荣,赖德生,曾世诚,刘淑敏,余惠玲.富碲组份对碲镉汞器件性能的影响[J].激光与红外,1983(7). |
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作者姓名: | 关振东 燕秀荣 赖德生 曾世诚 刘淑敏 余惠玲 |
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作者单位: | 电子部11所,电子部11所,电子部11所,电子部11所,电子部11所,电子部11所 |
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摘 要: | 本文研究了光谱响应范围在3~5μm的蹄镉汞光导探测器材料中镉碲组份及晶体结构对器件性能的影响。认为材料中蹄镉组份的同时测定对于晶体材料品质的评价是很重要的。实验证明,在一定x值的条件下,蹄组份值一般偏向富蹄范围。当富蹄组份含量不超过或低于50.0~51.0 %(原子)范围,蹄的含量越接近于化学计量比50.0% (原子)时,晶体结构越趋完整。相应于晶体的电学性能也较好。反之亦然。本研究可提供筛选晶片时的依据。
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