Abstract: | Riassunto Identificati, in modo opportuno, gli spazi vettoriali Qn ed R4n, si esaminano varie proprietà che intercorrono tra la metrica hermitiana di Qn e la metrica euclidea di R4n. Si definisce poi, per ogni sottospazio Et di E
4n (t =1, 2, 3, 4) una nozione di deviazione caratteristica assoluta che estende l'analoga nozione nota nel caso di cn. Si riescono così a caratterizzare i sottospazi Et pseudocaratteristici (cioè contenuti in un E4 che si identifica ad una retta di Qn), ed i sottospazi Et a prodotto hermitiano reale.
Lavoro eseguito nell'ambito dell'attività dei Gruppi di Ricerca del Comitato per la Matematica del C. N. R. per l'anno accademico
1964–65. |