A new totally reflecting X-ray fluorescence spectrometer with detection limits below 10?11 g

Summary A new type of energy dispersive X-ray-fluorescence spectrometer with totally reflecting sample support is presented. At this instrument the incident beam is reflected twice before it is directed towards the sample support. The detection limits in diluted solutions are below 0.1 ppb for about 20 metals. The influence of the matrix is discussed.

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Ein neuartiges totalreflektierendes Röntgenfluorescenz-Spektrometer mit Nachweisgrenzen unter 10^–11 g

Zusammenfassung Ein neuer Typ eines energiedispersiven Röntgenfluorescenzspektrometers mit totalreflektierendem Probenträger wird vorgestellt. Bei diesem Gerät wird der einfallende Strahl zweimal an Quarzspiegeln reflektiert, bevor er auf den Probenträger gelenkt wird. Die Nachweisgrenzen liegen bei günstiger Matrix für 20 Metalle unter 0,1 ppb. Der Einfluß der Matrix wird diskutiert.