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| GaAs高速电路在片瞬态测试技术研究 | |
| 引用本文： | 王国全,衣茂斌.GaAs高速电路在片瞬态测试技术研究[J].半导体情报,1999,36(5):50-52. |
| 作者姓名： | 王国全 衣茂斌 |
| 作者单位： | [1]电子十三所GaAsIC国家重点实验室 [2]吉林大学集成光电子国家重点实验室 |
| 摘 要： | 介绍了ＧａＡｓ高速集成电路在片瞬态参数测试的技术原理和系统组成。利用该系统对部分ＧａＡｓ高速电路进行的测试结果表明，该系统行之有效。 |
| 关 键 词： | 集成电路 在片瞬态测试 微波探针 GaAs集成电路 |
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