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Cu互连Mo基新型扩散阻挡层的化学机械抛光
引用本文:
王永伟,王敬轩,屈新萍.Cu互连Mo基新型扩散阻挡层的化学机械抛光[J].半导体技术,2012,37(11).
作者姓名:
王永伟
王敬轩
屈新萍
作者单位:
复旦大学 微电子学系,上海,200433;复旦大学 微电子学系,上海,200433;复旦大学 微电子学系,上海,200433
摘 要:
关 键 词:
化学机械抛光
铜互连
扩散阻挡层
钴钼合金
碟形缺陷
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