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Cu互连Mo基新型扩散阻挡层的化学机械抛光
引用本文:王永伟,王敬轩,屈新萍.Cu互连Mo基新型扩散阻挡层的化学机械抛光[J].半导体技术,2012,37(11).
作者姓名:王永伟  王敬轩  屈新萍
作者单位:复旦大学 微电子学系,上海,200433;复旦大学 微电子学系,上海,200433;复旦大学 微电子学系,上海,200433
摘    要:

关 键 词:化学机械抛光  铜互连  扩散阻挡层  钴钼合金  碟形缺陷
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