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软 X射线共振非弹性光散射及其应用
引用本文:丁大军,钱莉民.软 X射线共振非弹性光散射及其应用[J].光散射学报,2000,12(4):211-215.
作者姓名:丁大军  钱莉民
作者单位:1. 吉林大学原子与分子物理研究所,超硬材料国家重点实验室,长春,130023
2. 瑞典乌酱萨拉大学物理系
基金项目:国家自然科学基金,国家杰出青年科学基金的资助,,,,
摘    要:软 X射线共振非弹性光散射是近年来随着高亮度第三代同步辐射出现而发展起来的光散射光谱技术 ,可以用于对多原子构成的分子、凝聚态物质进行位置选择的价电子态结构的研究。与 X射线光电子能谱 ( XPS)或紫外光电子能谱 ( UPS)相比 ,这一光谱方法由于测量样品激发后产生的散射 X射线 ,因而不仅可以获得表面的原子分子信息 ,而且可以用于研究样品体内或掩埋薄层的原子分子。同时这一方法的共振特性使得其可以进行灵敏的元素选择测量。本文将介绍这一光散射光谱技术及其在原子分子物理、表面物理及凝聚态物理中的应用

关 键 词:软X射线  共振非弹性散射  价电子状态
文章编号:1004-5929(2000)04-0211-05
修稿时间:1999年4月22日

Soft X-Ray Resonant Inelastic Scattering and Its Applications
DING Da-jun,QIAN Li-min.Soft X-Ray Resonant Inelastic Scattering and Its Applications[J].Chinese Journal of Light Scattering,2000,12(4):211-215.
Authors:DING Da-jun  QIAN Li-min
Abstract:Soft X Ray Resonant Inelastic Scattering, as a new spectroscopic technique developed with the third generation synchrotron radiation, has many advantages in studying valence states in molecules and condensed materials with a position selectivity. Comparing with XPS or UPS, this technique can obtain the information of the atoms and molecules from surfaces, buried layers, as well as bulk materials because of measuring the X ray scattered. Resonant features of specific atoms in X ray scattering also makes this techniques very sensitive in element selectivity. We introduce this technique and discuss its applications in this paper.
Keywords:soft X  ray  resonant inelastic scattering  valence states of electrons  
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