具有AIGaAs缓变结构的InGaP/GaAs HBT性能改进分析 |
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引用本文: | 周守利,熊德平.具有AIGaAs缓变结构的InGaP/GaAs HBT性能改进分析[J].固体电子学研究与进展,2008,28(3). |
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作者姓名: | 周守利 熊德平 |
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作者单位: | [1]浙江工业大学信息学院,杭州310014 [2]广东工业大学物理与光电工程学院,广州510006 |
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摘 要: | 对改进型结构具有零导带势垒尖峰的缓变InGaP/AlGaAs/GaAsHBT器件的直流和高频特性进行了理论探讨,并同传统突变结构的InGaP/GaAsHBT的相应性能作了比较。结果表明:在低于30nm的一定范围内的缓变层厚度下,与突变的InGaP/GaAsHBT相比,改进型结构的InGaP/AlGaAs/GaAsHBT具有更低的offset和开启电压、更强的电流驱动能力、更好的伏一安输出特性和高频特性。
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关 键 词: | 铟镓磷/砷化镓 异质结双极晶体管 伏-安输出特性 截止频率 |
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