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全耗尽绝缘层上硅技术及生态环境简介
引用本文:赵晓松,顾祥,张庆东,吴建伟,洪根深.全耗尽绝缘层上硅技术及生态环境简介[J].电子与封装,2022(6):81-89.
作者姓名:赵晓松  顾祥  张庆东  吴建伟  洪根深
作者单位:中科芯集成电路有限公司
摘    要:随着半导体技术节点微缩到3 nm及以下,晶体管的尺寸难以进一步缩小,导致了成本优势的减小。功能性和功耗成为物联网、可穿戴设备、汽车电子等应用的主要关注点,为满足这些需求,全耗尽绝缘层上硅(Fully Depleted Silicon on Insulator, FDSOI)技术被进一步研发和产品化。对FDSOI技术的特点和生态环境进行了总结。FDSOI利用体偏置平衡功耗与性能,采用应力优化提高迁移率,通过减薄硅膜厚度抑制短沟道效应并减小寄生电容,因此被应用到低功耗处理器、低噪声放大器、嵌入式存储器等低功耗产品。FDSOI具有巨大的市场潜力,将成为半导体技术一个重要的发展方向。

关 键 词:全耗尽绝缘层上硅  超薄埋氧  体偏置
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