全耗尽绝缘层上硅技术及生态环境简介 |
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引用本文: | 赵晓松,顾祥,张庆东,吴建伟,洪根深.全耗尽绝缘层上硅技术及生态环境简介[J].电子与封装,2022(6):81-89. |
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作者姓名: | 赵晓松 顾祥 张庆东 吴建伟 洪根深 |
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作者单位: | 中科芯集成电路有限公司 |
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摘 要: | 随着半导体技术节点微缩到3 nm及以下,晶体管的尺寸难以进一步缩小,导致了成本优势的减小。功能性和功耗成为物联网、可穿戴设备、汽车电子等应用的主要关注点,为满足这些需求,全耗尽绝缘层上硅(Fully Depleted Silicon on Insulator, FDSOI)技术被进一步研发和产品化。对FDSOI技术的特点和生态环境进行了总结。FDSOI利用体偏置平衡功耗与性能,采用应力优化提高迁移率,通过减薄硅膜厚度抑制短沟道效应并减小寄生电容,因此被应用到低功耗处理器、低噪声放大器、嵌入式存储器等低功耗产品。FDSOI具有巨大的市场潜力,将成为半导体技术一个重要的发展方向。
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关 键 词: | 全耗尽绝缘层上硅 超薄埋氧 体偏置 |
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