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MOCVD方法在Ni/Si(111)模板上生长ZnO薄膜
引用本文:方芳,王立,方文卿,蒲勇,郑畅达,苏宏波,江风益.MOCVD方法在Ni/Si(111)模板上生长ZnO薄膜[J].南昌大学学报(理科版),2006,30(1):56-58,62.
作者姓名:方芳  王立  方文卿  蒲勇  郑畅达  苏宏波  江风益
作者单位:南昌大学,教育部发光材料与器件工程研究中心,江西,南昌,330047
基金项目:国家新技术研究发展基金(863计划);电子信息产业发展基金
摘    要:用常压金属有机化学气相外延方法在Ni/Si(111)模板上生长ZnO薄膜,研究了ZnO低温缓冲层的厚度(50h,300h)对薄膜性能的影响。采用原子力显微镜,X射线衍射和光致发光光谱仪对这些样品进行分析。结果表明:缓冲层的厚度对zno外延薄膜的表面形貌、晶体结构及发光性能都有较大影响。在50h~100A低温缓冲层上生长的ZnO外延膜,晶粒尺寸大小均匀,发光和结晶性能良好。

关 键 词:X射线衍射  光致发光
文章编号:1006-0464(2006)01-0056-03
收稿时间:2005-10-16
修稿时间:2005-10-16

MOCVD growth of ZnO film on Ni/Si(111) template
FANG Fang,WANG Li,FANG Wen-qing,PU Yong,ZHENG Chang-da,SU Hong-bo,JIANG Feng-yi.MOCVD growth of ZnO film on Ni/Si(111) template[J].Journal of Nanchang University(Natural Science),2006,30(1):56-58,62.
Authors:FANG Fang  WANG Li  FANG Wen-qing  PU Yong  ZHENG Chang-da  SU Hong-bo  JIANG Feng-yi
Institution:Education Ministry Engineering Research Center for Luminescence Materials and Devices,Nanchang University 330047 ,China
Abstract:
Keywords:ZnO  MOCVD  Ni  Si
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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