| 电荷耦合器件光度检测-深通道多相层流微流控芯片分析系统 |
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| 引用本文： | 沈宏,叶美英,方群,殷学锋.电荷耦合器件光度检测-深通道多相层流微流控芯片分析系统[J].分析化学,2005,33(11):1659-1662. |
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| 作者姓名： | 沈宏 叶美英 方群 殷学锋 |
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| 作者单位： | 浙江大学化学系,微分析系统研究所,杭州,310028 |
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| 基金项目： | 中国科学院资助项目;浙江省教育厅资助项目 |
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| 摘 要： | 采用精密数控雕刻技术，加工用于微流控多相层流分析的深通道（深度500μm）聚碳酸酯芯片，以提高芯片进行吸收光度检测的灵敏度。建立了无需辅助光学设备的近距离CCD二维图像光度检测系统，应用于三流路并行的多相层流比色分析。该芯片分析系统的特点是芯片加工快捷，检测灵敏度高，检测光程较常规芯片增加1个数量级；系统结构简单，易于推广。
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| 关 键 词： | 微流控芯片 多相层流分析 电荷耦合器件光度检测 |
| 收稿时间： | 11 3 2004 12:00AM |
| 修稿时间： | 2004-11-032005-01-21 |
Multi-Phase Laminar Flow Microfluidic Chip with Deep Channel and Charge Coupled Device Photometric Detection |
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| Shen Hong,Ye Meiying,Fang Qun,Yin Xuefeng.Multi-Phase Laminar Flow Microfluidic Chip with Deep Channel and Charge Coupled Device Photometric Detection[J].Chinese Journal of Analytical Chemistry,2005,33(11):1659-1662. |
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| Authors: | Shen Hong Ye Meiying Fang Qun Yin Xuefeng |
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| Institution: | Institute of Microanalysis System, Department of Chemistry, Zhejiang University, Hangzhou 310028 |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Microfluidic chip multi-phase laminar flow analysis charge coupled device photometric detection |
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