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| 简单反射法测量聚合物薄膜线性电光系数的研究 | |
| 引用本文： | 史伟,房昌水,潘奇伟,孟凡青,顾庆天,许东,陈钢进,余金中.简单反射法测量聚合物薄膜线性电光系数的研究[J].物理学报,2000,49(2):262-266. |
| 作者姓名： | 史伟 房昌水 潘奇伟 孟凡青 顾庆天 许东 陈钢进 余金中 |
| 作者单位： | 1. 山东大学晶体材料国家重点实验室,济南,250100 2. 同济大学波耳固体物理研究所,上海,200092 3. 中国科学院半导体研究所,北京,100083 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金!重大课题 (批准号 :6 9990 5 40 )资助的课题 |
| 摘 要： | 简单反射法是电光聚合物薄膜研究中测量线性电光系数(Pockels系数)的一种简单而常采用的方法,但文献中关于在调制电场作用下s光和p光光程差和位相差改变的计算有不尽完善之处,线性电光系数的表达结果也不尽相同.在充分考虑各种因素的情况下,对该方法给出了合理的理论处理,得出了简单反射法更为严格的线性电光系数表达式.并测量对比了几种聚合物线性电光系数的结果.讨论了简单反射法测量聚合物薄膜线性电光系数的局限性. |
| 收稿时间： | 6/6/1999 12:00:00 AM |
| 修稿时间： | 7/1/1999 12:00:00 AM |
SIMPLE REFLECTION TECHNIQUE FOR MEASURING THE LINEAR ELECTRO-OPTIC COEFFICIENT OF THE POLYMER THIN FILMS |
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| SHI WEI,FANG CHANG-SHUI,PAN QI-WEI,MENG FAN-QING,GU QING-TIAN,XU DONG,CHEN GANG-JIN,YU JIN-ZHONG.SIMPLE REFLECTION TECHNIQUE FOR MEASURING THE LINEAR ELECTRO-OPTIC COEFFICIENT OF THE POLYMER THIN FILMS[J].Acta Physica Sinica,2000,49(2):262-266. | |
| Authors: | SHI WEI FANG CHANG-SHUI PAN QI-WEI MENG FAN-QING GU QING-TIAN XU DONG CHEN GANG-JIN YU JIN-ZHONG |
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