用四探针方法测量不同温度下半导体材料的电导率

一、引言用四探针方法测量半导体材料的电导率,通常都是在常温下进行。为了扩大四探针方法的应用范围,我们设计了一种简单装置,对四探针头进行了改进,使被测样品所处的温度能够改变,通过测量不同温度下半导体材料的电导率,来研究半导体材料的导电机构。近年来,我们把这一实验纳入近代物理实验中,既有助于学生了解半导体中载流子的输运过程,又有相当的实验训练价值。