| 二次微分与样条小波自卷积联用分辨重叠伏安峰 |
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| 引用本文： | 张永清,莫金垣,谢天尧,蔡沛祥. 二次微分与样条小波自卷积联用分辨重叠伏安峰[J]. 分析科学学报, 2002, 18(1): 12-16 |
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| 作者姓名： | 张永清 莫金垣 谢天尧 蔡沛祥 |
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| 作者单位： | 中山大学化学与化学工程学院,广州,510275;中山大学化学与化学工程学院,广州,510275;中山大学化学与化学工程学院,广州,510275;中山大学化学与化学工程学院,广州,510275 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金 (No.2 9975 0 3 3 )，广东省自然科学基金 (No.980 3 40 ) |
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| 摘 要： | 本文采用二次微分法寻找重叠峰的各个峰位置，再利用样条小波自卷积（SWSC）方法直接对重叠的伏安峰进行处理，取得了较好的结果。被处理的重叠峰可达到基线分离，且峰位置的相对误差小于3．0％（完全掩盖峰为5．39％），峰面积的相对误差小于2．0％。方法不用于铅（Ⅱ）－铊（Ⅰ）体系的微分脉冲伏安信号处理，取得满意的结果。
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| 关 键 词： | 二次微分 样条小波自卷积 分辨因子 重叠峰 |
| 文章编号： | 1006-6144(2002)01-0012-05 |
| 修稿时间： | 2001-02-13 |
Spline Wavelet Self-Convolution Combined with Quadratic Differential for Processing Overlapped Voltammetric Peaks |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Quadratic differential Spline Wavelet self convolution Resolving factor Overlapped peak |
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