研究固体微结构的X射线粉末衍射全谱图拟合方法 |
| |
作者姓名: | 刘红超 郭常霖 |
| |
作者单位: | 中国科学院上海硅酸盐研究所 |
| |
摘 要: | X射线粉末衍射全谱图拟合的Rietveld方法是一种有效的晶体结构和微结构的分析方法。本文介绍了X射线粉末衍射全谱图拟合的Rietveld方法的基本原理,综述了该方法中的线形分析、校正及其在晶体结构分析、微结构分析、相定量分析和衍射图谱指标化等方面应用的最新进展。文章最后介绍了在实验方案选取方面的新概念
|
关 键 词: | 晶体 固体微结构 X射线 粉末衍射全谱图 |
本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录! |
|