Ce1-xGdxO2-δ固溶体中缺陷物种的拉曼光谱研究 |
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引用本文: | 李 岚,胡庚申,陈 芳,罗孟飞.Ce1-xGdxO2-δ固溶体中缺陷物种的拉曼光谱研究[J].无机化学学报,2012,28(1):20-24. |
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作者姓名: | 李 岚 胡庚申 陈 芳 罗孟飞 |
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作者单位: | 1. 浙江师范大学物理化学研究所,浙江省固体表面反应化学重点实验室,金华321004 2. 浙江大学催化研究所,杭州,321008 |
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摘 要: | 采用溶胶-凝胶法制备一系列Ce1-xGdxO2-δ固溶体。利用紫外(325 nm)和可见(514 nm)Raman光谱,X射线粉末衍射(XRD),透射电子显微镜(TEM)和紫外可见漫反射光谱(UV-Vis DRS),考察了Ce1-xGdxO2-δ固溶体的缺陷物种的分布以及Gd含量对缺陷浓度的影响。结果表明:Ce1-xGdxO2-δ固溶体中存在氧缺位(~560 cm-1)和GdO8型缺陷结构(~600 cm-1)。根据样品对Raman激发光的吸收,紫外Raman光谱反映样品的表层信息,可见Raman光谱反映样品的整体信息。Ce1-xGdxO2-δ固溶体表层氧缺位(να)和GdO8型缺陷物种的浓度(νβ)均高于固溶体体相,这归因于缺陷物种的表面富集。然而,相比于GdO8型缺陷物种,体相中氧缺位浓度增加较表层中的更显著。
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关 键 词: | Raman光谱 Ce1-xGdxO2-δ固溶体 缺陷物种 |
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