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溅射条件对Ni80Fe20薄膜各向异性磁电阻的影响
引用本文:王合英,孙文博,茅卫红. 溅射条件对Ni80Fe20薄膜各向异性磁电阻的影响[J]. 物理实验, 2007, 27(8): 3-5,9
作者姓名:王合英  孙文博  茅卫红
作者单位:清华大学,物理系,北京,100084
摘    要:研究了基片温度和溅射气压对磁控溅射方法制备的Ni80Fe20磁性薄膜各向异性磁电阻的影响.实验发现基片温度是影响Ni80Fe20薄膜各向异性磁电阻最重要的因素.在较高的基片温度下,溅射气压对Ni80Fe20薄膜各向异性磁电阻也有较大的影响.基片温度在150~180℃,溅射气压在0.3~0.5 Pa范围内制备的Ni80Fe20薄膜有较大的各向异性磁电阻(3.7%~4.3%).

关 键 词:Ni80Fe20薄膜  各向异性磁电阻  基片温度  溅射气压
文章编号:1005-4642(2007)08-0003-03
修稿时间:2007-04-032007-05-17

Effects of sputtering conditions on the anisotropic magnetoresistance of Ni80Fe20 thin films
WANG He-ying,SUN Wen-bo,MAO Wei-hong. Effects of sputtering conditions on the anisotropic magnetoresistance of Ni80Fe20 thin films[J]. Physics Experimentation, 2007, 27(8): 3-5,9
Authors:WANG He-ying  SUN Wen-bo  MAO Wei-hong
Affiliation:Department of Physics, Tsinghua University, Beijing 100084, China
Abstract:
Keywords:Ni80Fe20 thin films  anisotropic magnetoresistance  substrate temperature  sputtering pressure
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