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In0.5Ga0.5P/GaAs二维空穴气p沟异质结场效应管
引用本文:徐红钢,陈效建,高建峰,郝西萍.In0.5Ga0.5P/GaAs二维空穴气p沟异质结场效应管[J].固体电子学研究与进展,2001,21(3):276-280.
作者姓名:徐红钢  陈效建  高建峰  郝西萍
作者单位:南京电子器件研究所
基金项目:国家自然科学基金项目:批准号:6947038
摘    要:提出了一种新颖的GaAs基p沟异质结场效应管(pHFET)概念,器件采用了In0.5Ga0.5P/GaAs异质系统及二维空穴气(2DHG)原理以改善GaAs的空穴输运特性,据此原理研制的器件可在室温下工作,其实结果为:室温下,饱和电流Idss=61mA/mm,跨导gm=41mS/mm,77K下,饱和电流Idss=94mA/mm,跨导gm=61mS/mm,预计该器件在微波和数字电路中极佳的电流密度及高频增益,因而具有良好的应用潜力。

关 键 词:铟镓磷/砷化镓  二维空穴气  p沟异质结场效应晶体管
文章编号:1000-3819(2001)03-276-05
修稿时间:1999年8月4日

In0.5Ga0.5P/GaAs p Channel Heterostructure FET Based on Two Dimensional Hole Gas
Abstract:
Keywords:
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