肖特基势垒列阵和标准红外焦面列阵性能极限的比较

本文对焦面列阵的品质因数D*进行了分析。空间噪声(非均匀性)已并入信噪比中,并对肖特基势垒和准标光电探测器在3～5μm光谱带上的空间噪声效应(量子效率)进行了研究。为表明辐射源均匀度在固定图形噪声衰减中的作用,本文给出了对辐射源均匀度的要求。本文所讨论的D*具有局限性,因此最佳品质因数就是信噪比。