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镀金层识别及其厚度测定的X—荧光强度比值法
引用本文:郑荣华 黄近丹. 镀金层识别及其厚度测定的X—荧光强度比值法[J]. 分析测试学报, 1998, 17(5): 16-19
作者姓名:郑荣华 黄近丹
作者单位:福建省测试技术研究所
摘    要:利用Au原子在X射线激发下所发射的Lβ线和M线的强度比值识别样品是镀金还是K金,同时利用这个比值测定镀金层的厚度,镀金层厚度的测定范围为0~4μm,测定值与标定值的相对误差小于15%。

关 键 词:强度比值法,镀金层,识别,厚度

Intensity Ratio Method for the Recognition of Gold-plated Jewelry and for Gold Thickness Determination
Zheng Ronghua,Huang Jindan,Zhang Wenfang,Li Yenong. Intensity Ratio Method for the Recognition of Gold-plated Jewelry and for Gold Thickness Determination[J]. Journal of Instrumental Analysis, 1998, 17(5): 16-19
Authors:Zheng Ronghua  Huang Jindan  Zhang Wenfang  Li Yenong
Abstract:
Keywords:Intensity ration method  Gold plating  Recognition  Thickness
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