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| 双线阵CCD光学拼接与误差分析研究 | |
| 引用本文： | 何娜娜,艾雪雯.双线阵CCD光学拼接与误差分析研究[J].光学技术,2021,47(2):159-162. |
| 作者姓名： | 何娜娜 艾雪雯 |
| 作者单位： | 长安大学电子与控制工程学院,陕西西安710054;陕西淼沐环保工程有限公司,陕西西安710021;长安大学电子与控制工程学院,陕西西安710054 |
| 基金项目： | 国家重点研发计划;中央高校基本科研业务费专项创新团队项目 |
| 摘 要： | 基于线阵CCD的图像测量技术是当前工程应用中的一个重要领域,针对当前高精度大动态范围测量和标准线阵CCD测量范围及线阵CCD几何结构之间的矛盾,提出了一种高精度大范围的线阵CCD测量拼接方案.利用半反半透镜平面反射原理设计了双线阵CCD高精度拼接的光学拼接系统的光机结构原理,给出了重叠像元的标定原理,对其标定和拼接误差... |
| 关 键 词： | 图像测量 动态范围 光学拼接 标定 像素重叠 |
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