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| 电子设备定型阶段可靠性外场评估试验 | |
| 引用本文： | 巨向斌,郑耀耀.电子设备定型阶段可靠性外场评估试验[J].电光系统,2008(3). |
| 作者姓名： | 巨向斌 郑耀耀 |
| 作者单位： | 中国电子科技集团公司第二十七研究所,郑州450015 |
| 摘 要： | 可靠性是电子设备的重要属性，可靠性试验技术是可靠性工程中的一个重要环节，可靠性外场评估试验是一些大型系统和设备定型设计中仅能采用的可靠性鉴定方法。文章介绍了外场可靠性试验的目的、条件和方法，进行了内场和外场可靠性试验的比较，指出了外场可靠性试验的特点和试验方案。 |
| 关 键 词： | 电子系统和设备 可靠性鉴定与验收试验 外场试验评估 点估计值 置信区间 泊松分布 CkiSquare分布 |
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