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高抗灰迹KTP晶体的折射率测量与比较
引用本文:苏榕冰,黄凌雄,张戈,陈黎娜,陈金凤,庄健,陈昱,曾文荣.高抗灰迹KTP晶体的折射率测量与比较[J].人工晶体学报,2009,38(1):21-25.
作者姓名:苏榕冰  黄凌雄  张戈  陈黎娜  陈金凤  庄健  陈昱  曾文荣
作者单位:中国科学院福建物质结构研究所,福州,350002
摘    要:利用改进的顶部籽晶熔盐法生长出高抗灰迹KTP晶体,使用自准直法测量了其在不同温度时若干波长下的主轴折射率,根据Sellmeier方程拟合出在测量波长区间内的主轴折射率色散曲线,计算出相应的倍频第Ⅱ类相位匹配方向,并与使用常规熔盐法生长的普通KTP晶体进行了比较.结果表明,高抗灰迹KTP的值始终比常规熔盐法生产的普通KTP大.

关 键 词:高抗灰迹KTP晶体  主轴折射率  相位匹配方向  

Refractive Measurement and Comparison of High Gray-tracking Resistance KTP Crystal
SU Rong-bing,HUANG Ling-xiong,ZHANG Ge,CHEN Li-na,CHEN Jin-feng,ZHUANG Jian,CHEN Yu,ZENG Wen-rong.Refractive Measurement and Comparison of High Gray-tracking Resistance KTP Crystal[J].Journal of Synthetic Crystals,2009,38(1):21-25.
Authors:SU Rong-bing  HUANG Ling-xiong  ZHANG Ge  CHEN Li-na  CHEN Jin-feng  ZHUANG Jian  CHEN Yu  ZENG Wen-rong
Institution:Fujian Institute of Research on the Structure of Matter;Chinese Academy of Sciences;Fuzhou 350002;China
Abstract:
Keywords:high gray-tracking resistance KTP crystals  principle refractive index  phase matching angle  
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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