拓扑绝缘体Bi_2Te_3的热膨胀系数研究 |
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引用本文: | 李平原,陈永亮,周大进,陈鹏,张勇,邓水全,崔雅静,赵勇.拓扑绝缘体Bi_2Te_3的热膨胀系数研究[J].物理学报,2014(11):264-269. |
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作者姓名: | 李平原 陈永亮 周大进 陈鹏 张勇 邓水全 崔雅静 赵勇 |
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作者单位: | 西南交通大学;材料先进技术教育部重点实验室;超导与新能源研究开发中心;School |
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基金项目: | 国家自然科学基金(批准号:11104224,11004162,51271155);高等学校博士学科点专项科研基金新教师类课题(批准号:20110184120029);四川省科技计划项目(批准号:2011JY0031,2011JY0130)资助的课题~~ |
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摘 要: | 利用低温X射线衍射研究了Bi2Te3晶体的线热膨胀系数.结果表明:拓扑绝缘体Bi2Te3晶体的线热膨胀系数α||和α⊥表现为各向异性,并遵从不同的温度依赖关系.反映a-a平面内的膨胀系数α⊥在较宽的温区内服从Debye关系,而反映垂直于a-a平面方向的膨胀系数α||在100 K左右就开始出现与Debye模型在定性上的差别.利用Debye模型并结合Bi2Te3晶体的面内和层间原子之间的键合特性对α||和α⊥所表现出的不同温度依赖特性进行了解释.
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关 键 词: | 拓扑绝缘体 热膨胀系数 德拜模型 格律乃森关系 |
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