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| 用准平衡能带模型研究MIS一结构场增强非平衡瞬态 | |
| 作者姓名： | 张秀森 |
| 摘 要： | 本文研究」线性电压作用下MIS结构的电场增强非平衡I/Ir瞬态.本文除了考虑到深能级中心在非稳态条件下有随时间而改变的产生率以外，还考虑了深能级中心的电场增强产生载流子效应.在研究中我们采用了较简单的准平衡能带模型来分析有效产生区宽度.文中对于位于禁带中部的深能级中心的MIS结构给出了具体的结果. |
| 关 键 词： | 能带模型 MIS结构 I／V特性 MOS器件 |
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